X射線熒光(XRF)儀器的工作原理

  X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

  X射線熒光分析的優(yōu)點如下：

zui少或無需樣品制備

無損分析　

可測元素范圍廣： Ti 22 to U92

可分析固體和溶液

分析快速：幾秒內得到結果

定性、半定量和全定量分析

操作容易，只需要簡單培訓

X射線熒光標準檢測方法、規(guī)格和操作指導通用，可提高產品質量、

安全性，便于市場準入和貿易，增強客戶信心。

常規(guī)儀器應用如德國菲希爾x-ray鍍層測厚儀、牛津x射線測厚儀等。

其他測量儀器引讀：鐵素體測量儀、紫外線燈。